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供应High Power LED大功率光电特性测试系统

GT160 LED Wafer Optic-Electrical Test System 控制系统采用工业控制电脑架构,搭配分光光谱仪量测色度和光通量,视觉函数光探测器量测光强度与一组可精密控制的电压电流电源及数字电压电流表;可量测LED的相关光学与电性参数,并可作自动极性判断;GT610之人机界面软件交互性强,操作简单;GT610可与任何自动测试分类机连线;提供高稳定精确快速之测试。

功能特性

1、可量测光通量范围宽(加衰减片和调整积分时间可适应更大范围的测试);
2、采用独特的白光测量方法和光学器件,更先进的白光分色技术;
3、可测试各种颜色的大功率LED;
4、量测标准可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和eithley;
5、可选择积分球、函数光探测器或分光光谱仪灯光学量测感应装置;
6、即时CIE坐标图及落点显示;
7、16位恒流恒压和数字电表量之解析度;
8、完善的数据统计系统;
9、全系列LED测试系统解决方案,采用PC-based装置,提供快速灵活之自动测试和人机交互界面;
10、用户可任意定义之电压电流源值,之测试项目之上限与下限,之任意安排量测值之输出BIN位;
11、快捷的分级设定功能。

测试规格

1、电流-电压量测:
电流源范围:0~2000mA
电流源精度: 16位 ±0.03mA
电压源范围:0~25V
电压源精度:±0.05%/16位 ±0.038V
4档可程控量测范围:0~0.1/1~20/20~200/200~2000mA

2、电压-电流量测:
电压源范围:0~25V
电流源范围:0~2000mA
电压量测范围:0~25V/0~20V/0~10V/0~1V

3、光通量量测Φ:
范围:0~300lm(加衰减片和调整积分时间可适应更大范围的测试)
精度:±3~5%
重复性:±0.3%
4、颜色量测:

光谱仪/探测器类型:PC2000-ISA / Sony Silicon CCD,2048 Pixels
光谱暴光时间:4ms~65s
光谱解析度:1.0nm
像素点解析度:0.3nm
色度坐标解析度:0.003

操作系统支持

Microsoft Windows 2000 。

量测项目

1、Forward Voltage(正向电压)Vf;
2、Forward Leakage Current(正向电流)If;
3、Reverse Breakdown Voltage(反向崩溃电压)Vz;
4、Reverse Leadage Current(反向漏电电流)Ir;
5、Thyristor(闸流体效应)Thy;
6、Reverse Voltage(反向电压)Vr;
7、Luminous Intensity(光强度)Iv;
8、Total Luminous Flux(全光通量)Φv---积分球;
9、Peak Wavelength(峰值波长)λp;
10、Dominant Wavelength(主波长)λd;
11、CIE Chromaticity Coordinates(色度坐标)(x,y);
12、Full Width Half Maximum(FWHM光谱功率(能量)分布);
13、Correlated Color Temperature(相关色温);
14、Purity(纯度);
15、Color Rendering Index For White Light LED(显色指数)。

系统组成

1、PC-base(内有可控电流源电压源控制板,分光光谱仪,数字I/O卡);
2、带SMA905接头之光缆;
3、光学测量头:
1)含有视觉函数光探测器;
2)全光通量量测之积分球。
4、LCD Monitor
5、自动分类

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